Electron microscopy (big and small) data analysis with the open source software package HyperSpy
2017
Einzelheiten
Titel
Electron microscopy (big and small) data analysis with the open source software package HyperSpy
Autor(en)/ in(nen)
Peña, Francisco de la (University of Cambridge, Cambridge, UK ; Paris-Sud University, France ; CEA Grenoble, Grenoble, France)
Ostasevicius, Tomas (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Fauske, Vidar Tonaas (NTNU, Trondheim, Norway)
Burdet, Pierre (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Jokubauskas, Petras (University of Warsaw, Poland)
Ostasevicius, Tomas (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Fauske, Vidar Tonaas (NTNU, Trondheim, Norway)
Burdet, Pierre (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Jokubauskas, Petras (University of Warsaw, Poland)
Datum
2017-08
Veröffentlich in
Proceedings of the Microscopy Microanalysis 2017 Meeting
Band
vol. 23, suppl. S1
Verlag
St-Louis, USA, 6-10 august 2017
Umfang
2 p.
Vorgestellt auf
Microscopy & Microanalysis 2017 Meeting, St-Louis, USA, 2017-08-06, 2017-08-10
ISSN
1431-9276
Papiertyp
short paper
Domaine
Ingénierie et Architecture
Ecole
HEIG-VD
Institut
COMATEC – Institut Conception mécanique et technologies des matériaux
Fussnote
BURDET, Pierre est chercheur à la HES-SO, HEIG-VD, depuis 2018.
Cette publication a été rédigée par un membre de l’institut COMATEC - Institut de Conception, Matériaux, Emballage & Conditionnement.
Cette publication a été rédigée par un membre de l’institut COMATEC - Institut de Conception, Matériaux, Emballage & Conditionnement.
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