Electron microscopy (big and small) data analysis with the open source software package HyperSpy
2017
Détails
Titre
Electron microscopy (big and small) data analysis with the open source software package HyperSpy
Auteur(s)/ trice(s)
Peña, Francisco de la (University of Cambridge, Cambridge, UK ; Paris-Sud University, France ; CEA Grenoble, Grenoble, France)
Ostasevicius, Tomas (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Fauske, Vidar Tonaas (NTNU, Trondheim, Norway)
Burdet, Pierre (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Jokubauskas, Petras (University of Warsaw, Poland)
Ostasevicius, Tomas (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Fauske, Vidar Tonaas (NTNU, Trondheim, Norway)
Burdet, Pierre (University of Cambridge, Cambridge, UK)
Jokubauskas, Petras (University of Warsaw, Poland)
Date
2017-08
Publié dans
Proceedings of the Microscopy Microanalysis 2017 Meeting
Volume
vol. 23, suppl. S1
Publié par
St-Louis, USA, 6-10 august 2017
Pagination
2 p.
Présenté à
Microscopy & Microanalysis 2017 Meeting, St-Louis, USA, 2017-08-06, 2017-08-10
ISSN
1431-9276
Type de papier
short paper
Domaine
Ingénierie et Architecture
Ecole
HEIG-VD
Institut
COMATEC – Institut Conception mécanique et technologies des matériaux
Note
BURDET, Pierre est chercheur à la HES-SO, HEIG-VD, depuis 2018.
Cette publication a été rédigée par un membre de l’institut COMATEC - Institut de Conception, Matériaux, Emballage & Conditionnement.
Cette publication a été rédigée par un membre de l’institut COMATEC - Institut de Conception, Matériaux, Emballage & Conditionnement.
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